» Control nedistructiv » Spectrometre portabile » Spectrometru Portabil Pentru Analiza Metalelor Cu Raze X

Spectrometru portabil pentru analiza metalelor cu raze X

Spectrometru portabil pentru analiza metalelor cu raze X
  • Spectrometru portabil pentru analiza metalelor cu raze X

Specificaţii

         Noua generaţie de analizoare portabile SciAps cu tehnlogia fluorescenţei razelor-X (XRF) oferă cele mai mari precizii, respectiv viteze de măsurare (în cazul modelelor de top sub 1 sec) şi cele mai bune limite de detecţie (LOD) dintre toate sistemele portabile din acest domeniu.
 
        Sunt destinate analizării compoziţiilor chimice, respectiv sortării tuturor tipurilor de oţeluri (inclusiv inox) şi aliajelor pe bază de Al, Cu, Zn, Ni, Pb. Sunt special concepute pentru determinarea elementelor de aliere de bază ca Mg (de la 0.3-0.6% în aliaje de Al), Al, Si, S şi P.
 
        Fiabilitatea şi versatilitatea este garantată datorită soluţiilor tehnice şi informatice inovatoare implementate în structura acestor sisteme (de ex. detector cu scut dublu, sistem de operare bazat pe Android, etc). O caracteristică unică, oferită de aceste aparate, este faptul, că analizele pot fi făcute şi fără contact direct cu mostra de material analizată (astfel, se poate analiza chiar şi şpanul rămas după prelucrări).
 
        Luând în considerare performanţele acestor sisteme, posibilitatea dezvoltării ulterioare fără schimbarea aparatului şi comparând cu celelalte sisteme aflate pe piaţa mondială, se poate considera, ca sistemele SciAps reprezintă gama de top din acest domeniu.
 

Produse asemănătoare